XY/DRL-III導(dǎo)熱系數測(cè)試儀
一、 XY/DRL-III導(dǎo)熱系數測(cè)試儀 概述
主要測試薄的熱導體、固體電絕緣材料、導熱矽脂、樹脂、橡膠、氧化铍瓷、氧化鋁瓷等材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導熱系數。檢測材料爲固态片狀，加圍框可檢測粉狀态材料及膏狀材料。
特點：帶自動加壓，自動測厚裝置，並連計算機實現全自動控制。儀器採用6點溫度梯度檢測，可檢測不同壓力下熱阻曲線，採用優化的數學模型，可測量材料導熱系數和熱阻以及界面處接觸熱阻等多個參數。
主要技術參數
1、試(shì)樣(yàng)大小：≤Φ30mm
2、試(shì)樣(yàng)厚度：0.02-20mm
3、熱極控溫範圍：室溫-350.00℃,控溫精度0.01℃
4、冷極控溫範圍：0-99.00℃,控溫精度0.01℃
5、導(dǎo)熱系數測(cè)試範圍：0.01～50W/m*k,1～300W/m*k
6、熱阻測試範圍：0.05～0.000005m2*K/W
7、壓力測(cè)量範(fàn)圍：0～1000N
8、位移測(cè)量範(fàn)圍：0～30.00mm
9、測試精度：優於3%
10、試樣可在真空狀态下試驗,確保測試環境及精度，真空度0.1MPa.
11、實驗方式：a、試樣不同壓力下熱阻測(cè)試。b、材料導熱系數測(cè)試。c、接觸(chù)熱阻測(cè)試。
12、計算機全自動測(cè)試，並(bìng)實現數據打印輸出。
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